Table SAP TQSS1 - Paramétrage du système RM-QSS: niveau division

Zone Clé Elément de donnée Type Offset Long. Décimales Table de Contrôle Description
MANDT X MANDT CLNT 0 3 0 T000 Mandant
WERKS X WERKS_D CHAR 3 4 0 T001W Division
MERKKL QMERKKLAS CHAR 7 2 0 Pondération de la caractéristique
FEHLERKL QFEHLKLAS CHAR 9 2 0 Classe de défauts
HISTMERK QHISTMERK CHAR 11 1 0 Caractéristiques de contrôle gérées avec historique
HISTMETH QHISTMETH CHAR 12 1 0 Méthodes de contrôle gérées avec historique
HISTMENGE QHISTMENGE CHAR 13 1 0 Ensembles de sélection gérés avec historique
PLAUSIFAK QPLAUSIFAK DEC 14 5 2 Facteur permettant de calculer la limite de vraisemblance
NKSTMSGTYP QNKSTMSGTYP CHAR 17 1 0 Type de message si le nombre de décimales est trop élevé
NKSTELLOF QNKSTELLOF INT1 18 3 0 Nbre de décimales supplémentaires pour grandeurs statist.
NKSTAT QNKSTAT INT1 19 3 0 Nombre de décimales pour paramètres statist., p.ex., indices
EINFACHERF QERFASKONF CHAR 20 1 0 Clé de configuration de la saisie
RDKLASPLAU QRDKLASPLA CHAR 21 1 0 Code: classes marginales jusqu'aux limites de vraisemblance
LGORTRLAGE QLGO_RUECK CHAR 22 4 0 T001L Magasin de retour
KOSTLZERST QKOSTLZER CHAR 26 10 0 Centre de coûts pour quantité détruite lors contrôle
KOSTLSCHR QKOSTLSCHR CHAR 36 10 0 Centre de coûts pour enregistrements des rebuts
KOSTRCHKRS QKOKRS CHAR 46 4 0 TKA01 Périmètre analytique pour centres de coûts lot de ctrle
STARTPROBE QSTARTPROB NUMC 50 6 0 QASV Valeur initiale de l'attribution des numéros d'échantillons
INKREPROBE QINKREPROB NUMC 56 6 0 QASV Intervalle d'attribution des numéros d'échantillons
SELEZEIT QSELEZEIT INT2 62 5 0 Période de sélect.pour le traitem.des lots de ctrle en jours
STPREINS QSTPREINS CHAR 64 1 0 Echantillon n=1: saisie collective
SLWBEZ QSLWBEZ CHAR 65 3 0 Désignation combinaison point de contrôle/zones utilisateur
PPVEMENGE QPPVEMENGE CHAR 68 8 0 QPAM Ensemble de sélection pour valorisation du point de contrôle
PPVEWERK QPPVEWERK CHAR 76 4 0 T001W Divis.de l'ensemble de sélect.pour valorisat.point de ctrle
PPVECODEGR QPPVECODGR CHAR 80 8 0 QPGR Groupe de codes pour valorisation du point de contrôle
PPVECODE QPPVECODE CHAR 88 4 0 QPCD Code pour valorisation du point de contrôle
PPKZTLZU QPPKZTLZU CHAR 92 1 0 Affectation de lots partiels dans contrôle de fabrication
PPSTPRVER QPPSTPRVER CHAR 93 8 0 Points de contrôle libres
IHSTPRVER QIHSTPRVER CHAR 101 8 0 Procédure d'échantillonnage pour contrôle en Maintenance
PVSTPRVER QPVSTPRVER CHAR 109 8 0 Procédure d'échantillonnage pour gestion d'échantillons
VOSTPRVER QVOSTPRVER CHAR 117 8 0 Procédure d'échantillonnage (par défaut)
KZGEB QKZGEB CHAR 125 1 0 Code: saisie du nombre de conditionnements pour lot de ctrle
AUARTPER QAUARTPER CHAR 126 4 0 T003O Type d'ordre pour ordres QM de longue durée
AUARTEINZL QAUARTEINZ CHAR 130 4 0 T003O Type ordre pour ordres QM avec affect.individ.à lot de ctrle
SKIP_TIME QSKIP_TIME NUMC 134 4 0 Temps attente en minutes depuis créat.lot ctrle pr lot skip
AUD_HOURS QAUD_HOURS NUMC 138 4 0 Tps d'attente en heures depuis créat. lot ctrle (DU autom.)
AUD_MINUT QAUD_MINUT NUMC 142 4 0 Tps d'attente en minutes depuis créat. lot ctrle (DU autom.)
VALNOSPEC QVALNOSPEC CHAR 146 1 0 Valorisation des lots MM possible sans spécification
ARTQMAT QARTQMAT CHAR 147 8 0 TQ30 Catégorie de contrôle pour stock en contrôle qualité